NCM 9012.90.10

FILAMENTO FEG RETIP PARA MICROSCÓPIO ELETRÔNICO - MÓDULO PADRÃO FEG (FIELD EMISSION GUN) PEÇA PARA REPOSIÇÃO EM CAMPO DA PONTA EMISSORA DO CANHÃO DE ELÉTRONS; RESTAURA EMISSÃO, ESTABILIDADE E RESOLUÇÃO

FONTE DE ELÉTRONS DE EMISSÃO POR CAMPO (FEG), MÓDULO DE TROCA (HOTSWAP) EM CAMPO PARA MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE VARREDURA. APLICAÇÃO: EMISSOR DE ELÉTRONS CRUCIAL PARA MICROSCÓPIOS ELETRÔNICOS DE VARREDURA (SEM) EQUIPADOS COM FONTE DE ELÉTRONS DO TIPO FEG (FIELD EMISSION GUN). SUA FUNÇÃO PRIMÁRIA É GERAR UM FEIXE DE ELÉTRONS DE ALTA ESTABILIDADE E BRILHO, UTILIZANDO O PRINCÍPIO DA EMISSÃO DE CAMPO, QUE É ESSENCIAL PARA A VARREDURA DE AMOSTRAS E A OBTENÇÃO DE IMAGENS DE ALTA RESOLUÇÃO. TRATA-SE ESPECIFICAMENTE DE UMA FONTE DE ELÉTRONS DE EMISSÃO POR CAMPO (FEG) INTEGRADA EM UM MÓDULO HOT-SWAP PARA FÁCIL SUBSTITUIÇÃO EM CAMPO. O MATERIAL DO EMISSOR É TUNGSTÊNIO DE ALTA PUREZA ( 99,95%), COM UMA GEOMETRIA OTIMIZADA PARA A EMISSÃO DE CAMPO. AS DIMENSÕES TÍPICAS DO EMISSOR (ESTRUTURA/MÓDULO) SÃO DE 0,10 MM DE DIÂMETRO POR 5,00 MM DE COMPRIMENTO. PARA O SEU FUNCIONAMENTO, AS CONDIÇÕES DE OPERAÇÃO TÍPICAS DO MÓDULO/EMISSOR INCLUEM UMA TEMPERATURA DE OPERAÇÃO DO EMISSOR DE APROXIMADAMENTE 2.200 °C, UMA CORRENTE DE EMISSÃO MÁXIMA DE 500 µA, E UM REQUISITO DE VÁCUO OPERACIONAL ULTRABAIXO, VARIANDO DE 10 a 10 mbar., ASSEGURANDO A OPERAÇÃO CONTÍNUA E A PERFORMANCE OTIMIZADA DE EQUIPAMENTOS CIENTÍFICOS E DE PESQUISA DE ALTO CUSTO.

REBUILD, UC (MÓDULO DE COLUNA UNIVERSAL) - MÓDULO DE FONTE DE ELÉTRONS (UC), RECONDICIONADO DE FÁBRICA FORNECIDO COMO UNIDADE DE SUBSTITUIÇÃO FUNCIONAL (FRU). FUNÇÃO: O MÓDULO GERA E CONTROLA O FEIXE DE ELÉTRONS NECESSÁRIOS PARA A IMAGEM E ANÁLISE NO MICROSCÓPIO. APLICAÇÃO: UTILIZADO EM SISTEMAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA PARA IMAGENS DE ALTA RESOLUÇÃO EM APLICAÇÕES CIENTÍFICAS E INDUSTRIAIS.

PEÇAS DE REPOSIÇÃO PARA MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE VARREDURA POR EMISSÃO DE CAMPO JEOL, ** SENDO: 780742893- CÂMARA DE VÁCUO DE ULTRA ALTO VÁCUO PARA CANHÃO DE ELÉTRONS DO TIPO VE-GUN, PARA MICROSCÓPIOS ELETRÔNICOS DE VARREDURA JEOL, COMPOSTA POR BOMBAS IÔNICAS, VÁLVULAS, RESISTÊNCIAS PARA DESCONTAMINAÇÃO, BOBINAS E DEFLETORAS ELETROMAGNÉTICAS PARA ALINHAMENTO DO FEIXE E CANCELADOR DE RUÍDO .

Pulsador de Microscópio Eletrônico de imagem acústica, p/n FS-A530743. Função principal emitir e receber sinal do transdutor para produzir imagem durante a inspeção de componentes semicondutores e detectar problemas de ligações elétricas ou delaminação entre as interfaces do encapsulamento utilizando água como meio entre o transdutor e o item a ser inspecionado

PEÇAS DE REPOSIÇÃO PARA MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE VARREDURA POR EMISSÃO DE CAMPO JEOL, SENDO: JU2009375 -FILAMENTO W/SPRING PARA VE-GUN 781116112 -EMISSOR DE ELÉTRONS POR EMISSÃO DE CAMPO (VE GUN) PARA MICROSCÓPIOS ELETRÔNICOS DA MARCA JEOL, ACOMPANHADO UMA MOLA PARA ENCAIXE APROPRIADO NO SISTEMA - CAPSULA METÁLICA CONTENDO UM FILAMENTO DE TUNGSTÊNIO ACOMPANHADO POR 2 MOLAS DE COBRE.

Sistema AZtecOne da Oxford Instruments, acessório que adiciona a capacidade de caracterização de materiais ao microscópio de bancada Hitachi TM-3030. AZtecOne combina facilidade de uso com grande poder de análise EDS e a comprovada estabilidade e precisão do compacto detector de silício.