NCM 9012.10.10

MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE VARREDURA DE BANCADA - EQUIPAMENTO COMPACTO QUE REALIZA ANÁLISE DE MORFOLOGIA E MICROESTRUTURA DE DIFERENTES MATERIAIS CONTANDO TAMBÉM COM UMA SONDA DE EDS QUE PERMITE A DETECÇÃO DE ELEMENTOS QUÍMICOS NA AMOSTRA DE FORMA QUALITATIVA.

Microscópio eletrônico de varredura (FE-SEM), produtor de imagens de uma amostra através de varredura de superfície com um feixe de elétrons focalizado produzindo sinais que contêm informações sobre a topografia da superfície e composição de amostra. Ampliação: 10x 1.000.000x,, Máx. Amostra: D=100mm; A=40mm, câmera EBSD, Resolução de energia < 127eV para MnKa , Imagem SE/BSE, Detector EDS Octane Elect Plus, dotado com Software JEOL para operar o SEM (PC-SEM) EDAX TEAM para operar EDS-Analysis, EDAX TSL OIM Coleta de Dados / Análise de Dados para operar EBSD-Analysis.

Microscópio digital Modelo PH-A14, imagem projetada invertida, tela com transferidor / diâmetros efetivo de 356mm em vidro com um lado fosco, rotação de 360 graus, iluminação por lâmpada halógena 24V 150W com zoom telecentrico, lentes objetivas de ampliação de 10X, 20X, 50X e 100X com projetor de perfil para aplicações de controle de qualidade e garantia em praticamente todos os campos da indústria, completo e em perfeito estado de funcionamento.

Instrumento de laboratório denominado: Microscópio eletrônico de varredura (SEM) de última geração, projetado para oferecer imagens de alta resolução e análises elementares rápidas por meio de um sistema de espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS) totalmente integrado. Composto por: Workstation PC conectado ao microscópio + monitor de tela plana (flat panel), teclado e mouse utilizados para controlar o revestimento óptico, a interface SEM e os módulos de análise + espectrômetro EDS detector compacto de fluorescência de raios X utilizado para análise elementar em microscopia ou controle de processo. Com as seguintes características: Utiliza a técnica de imagem (SEM - Scanning Electron Microscopy) para observar a superfície de materiais com altíssima resolução, muito maior do que a de microscópios ópticos convencionais; permite caracterização morfológica e composicional de amostras sólidas; reproduz a geração de imagens de alta resolução por elétrons secundários e retroespalhados; realiza a identificação elementar qualitativa e quantitativa via EDS; contendo câmara de amostras com blindagem eletromagnética, coluna de vácuo em liga metálica vedada com sistema de bombeamento interno; carregamento automático da amostra e foco rápido; ideal para aplicações como análise de falhas, controle de qualidade, caracterização de materiais e ensino técnico-científico, interface gráfica por tela sensível ao toque ou via software em PC, alta resolução de imagens e brilho excepcionais, controle automatizado de foco, brilho e contraste, ajuste automático de vácuo e configuração de parâmetros de aquisição. E as seguintes especificações: Fonte CeB6(Cereto-Hexabore), Ampliação eletrônica de 160 a 350.000×; resolução de imagem até 6 nm (SE) e 8 nm (BSE); espectrômetro EDS com detector SDD, resolução 132 eV; faixa de detecção do EDS do Boro ao Califórnio; tensões operacionais fixas (5, 10, 15 kV) e ajustáveis de 4,8 a 20,5 kV; modo óptico com câmera colorida de 20-134×.